Nel seminario saranno illustrate le caratteristiche del sistema SEM-FIB Zeiss Auriga Compact dell'Istituto IMEM-CNR. Sulla base di esempi di attività svolte negli ultimi anni in Istituto, saranno mostrate le attuali potenzialità dello strumento in diverse modalità: SEM (microscopia elettronica), EDX (analisi composizionale), GIS (deposizione di metalli) e FIB (microscopia, incisione e impiantazione a fascio ionico). Saranno inoltre elencati alcuni possibili sviluppi del sistema in grado di ampliarne le attuali potenzialità e soddisfare le esigenze di nuove attività di ricerca.